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美国SPTS公司的光热共路干涉仪是源于斯坦福大学研究项目的产品,用于测试晶体材料和薄膜的弱热吸收系数,对样品的表面散射不敏感,泵浦激光波长可以在190-1800nm,灵敏度可达10-7。适合于非线性激光晶体的测试,比如KTP、BBO、铌酸锂等;对薄膜可以进行透过、反射的测试。 弱吸收仪除了以上应用外,还可以用于薄膜质量的检测,并用于控制和改善镀膜的工艺工程。