欧唐科技 X射线多层膜

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	产品页：X 射线多层膜元件
	用X射线波长色散分析轻元素时，多层膜是目前最流行的X射线色散元件。与天然晶体相比，它在分析Mg到Be等轻元素上有许多优点。高反射率、抑制高级次反射、降低背景噪声、高环境稳定性等优点使多层膜已成为分析轻元素用波长色散谱仪和波长色散X射线荧光谱仪的理想色散元件。

	用户定制
	平面和曲面多层膜可用于波长色散X射线荧光和电子探针微分析方法。我们能按照用户要求进行设计和制作不同周期、曲率半径和安装方式的多层膜色散元件。

	可提供的多层膜类型
	现能提供如下多层膜元件：Mo/Si、Mo/B4C、W/Si、W/B4C、W/C、Ni/Ti、Mg/SiC、Ni/B4C、Ni/C、Cr/C、Cr/Sc、La/ B4C、V/C、SiC/Si、Si/C等。

	测试与应用

W/B4C宽角度超反射镜测试与拟合曲线
（8keV光子能量处)

工作于不同波长处的Mo/Si多层膜反射率测量结果

W/Si多层膜X射线掠入射反射测试曲线

周期2.5nm W/Si多层膜透射电镜断层照片

Mo/Si多层膜反射率
(德国BESSY-II同步辐射测试)

周期7nm Mo/Si多层膜透射电镜断层照片

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