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产品页：SPTS 弱热吸收测试仪 |
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SPTS(Stanford Photo Thermal Solution,斯坦福光热方案）公司位于美国的硅谷，成立于2002年，其产品采用光热共路干涉技术（PCI:Photothermal Common path Interferometry)专门针对薄膜或晶体材料，测量在光辐射下，薄膜或晶体在关心波长下的极弱热吸收。此技术于1997至2000在斯坦福大学得到开发。PCI技术最初应用于研究非线性晶体材料中的诱导吸收和光损伤，之后的应用扩展到薄膜、气体以及液体的弱吸收测试中。 |
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Quad系列 |
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- 主要用于晶体等光学材料的透过方式测量，可加多路泵浦激光。
- 适用晶体：Nd:YVO4, Nd:YAG, KTP, RTP, LiTaO2, LiNbO3, LBO, BBO, PPLT, PPLN…
- PCI-03型主要用于单路泵浦激光
- PCI-02型主要用于双路泵浦激光,比如某些非线性晶体的诱导吸收测量
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Solano系列 |
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- 主要用于薄膜的透过/反射方式测量
- 适用于AR、HR以及单层、多层膜的热吸收测量
- 标配2个探测器，一个用于透过测量，一个用于近正反射测量
- 选配第3个探测器，用于变角度或45度测量
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主要指标 |
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探测光波长：633nm
探测光直径：F0.2mm
最大吸收值：100mW/cm (材料) 10mW （薄膜）
体吸收灵敏度：1microW
面吸收灵敏度：0.1microW
灵敏度（损伤引起的折射率变化):0.1ppm
扫描分辨率：0.06 mm (水平方向), 0.6 mm（垂直方向）
时间分辨率： > 0.01s
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